JZ-102B型探針測(cè)試臺(tái)與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。
粗調(diào)范圍：360°；微調(diào)范圍：±10°；小刻劃：1°； 銅盤直徑：Φ85mm；絕緣盤直徑：Φ102mm
標(biāo)準(zhǔn)配置：主工作臺(tái)、CCD攝像頭、監(jiān)視器、三維微調(diào)座2個(gè)、探針臂2支、探針2支。 可選配件：三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。
可按用戶的實(shí)際需求進(jìn)行訂做。
