所有產(chǎn)品
產(chǎn)品總數(shù)：17
兩探針電阻率測試儀
簡介:兩探針電阻率測試儀JZ-KDY2產(chǎn)品簡介兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國標準儀器采用GB/T1551-1995硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法及美國材料與試驗協(xié)會（ASTM）推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設(shè)計。它適用于測量橫截面積均勻的圓形、方形、或矩形單晶錠的電...
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數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀
簡介:公司網(wǎng)址;http://www.jzyq18.comJZ-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀產(chǎn)品簡介為了解決太陽能單晶、多晶少子壽命測量，特按照國標GB/T1553及SEMIMF-1535用高頻光電導法研制出了數(shù)字式少子壽命測試儀。該設(shè)備是按照標準GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測定的高頻光電導衰減法”設(shè)計制...
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全類型整流法導電型號測試儀
簡介:JZ-STY2R全類型整流法導電型號測試儀產(chǎn)品簡介導電型號測試儀是嚴格按照國際標準SEMIMF42-1105及標準GB/T1550中的全類型整流法設(shè)計生產(chǎn)。由于將三根測試探針做成測量探頭，每根探針均有獨立伸縮和加壓機構(gòu)，因此樣品上無需制備電極。探針與半導體材料上產(chǎn)生的整流電勢差經(jīng)低噪聲、低...
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導電型號測試儀
簡介:JZ-STY3導電型號測試儀產(chǎn)品簡介導電型號測試儀是嚴格按照國標GB/T1550-1997和ASTMF42（非本征半導體村料導電類型的標準測試方法）中的熱探針及整流導電類型測試方法設(shè)計的導電類型鑒別儀。本儀器熱探筆內(nèi)裝有加熱和控溫組件，自動加熱并使溫度維持在50?60℃范圍內(nèi)，冷熱探筆在半導...
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數(shù)字式四探針測試儀
簡介:JZ-RTS8型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準而設(shè)計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機直...
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數(shù)字式四探針測試儀
簡介:JZ-RTS4型數(shù)字式四探針測試儀JZ-RTS4型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準而設(shè)計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分...
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四探針測試儀生產(chǎn)
簡介:JZ-SDY4型四探針測試儀JZ-SDY4型四探針測試儀是根據(jù)單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準設(shè)計的半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試專用儀器.儀器以大規(guī)模集成電路為核心部件,采用平面輕觸式開關(guān)控制,及各種工作狀態(tài)LED指示.應用微計算機技術(shù)，利用HQ-710E型測量數(shù)據(jù)...
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便攜式四探針測試儀
簡介:JZ-RTS2/JZ-RTS2A型便攜式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準而設(shè)計的，專用于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。儀器采用了電子技術(shù)進行設(shè)計...
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手持式四探針測試儀
簡介:JZ-RTS3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準而設(shè)計的，專用于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。儀器采用了電子技術(shù)進行設(shè)計、裝配。具...
￥12800
雙電測四探針測試儀
簡介:JZ-SDY5型雙電測四探針測試儀JZ-SDY5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量技術(shù),利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，從而提高了測量結(jié)果的準確度使用本儀器進行測量時，由于...
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二探針測試儀
簡介:JZ-RTS7型二探針測試儀是運用二探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準而設(shè)計的，專用于測試半導體材料縱向電阻率的專用儀器。儀器由主機、測試臺、二探針探頭、計算機等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示，亦可由計算機控...
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探針測試儀
簡介:JZ-102A型探針測試臺與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。技術(shù)指標：工作臺面370mm*245mm載物臺直徑4"放大倍數(shù)50倍、100倍，固定倍數(shù)；監(jiān)視方式顯微鏡光學參數(shù)手輪調(diào)焦范圍：60mm；升降調(diào)焦范圍...
￥22800
探針測試儀武漢現(xiàn)貨
簡介:JZ-102B型探針測試臺與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。技術(shù)指標：工作臺面370mm*245mm載物臺直徑4"放大倍數(shù)10-100倍連續(xù)變倍；監(jiān)視方式CCD攝像頭、監(jiān)視器；光學參數(shù)手輪調(diào)焦范圍：60mm；升降...
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四探針測試儀
簡介:JZ-102C型探針測試臺與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。技術(shù)指標：工作臺面370mm*245mm載物臺直徑4"放大倍數(shù)50倍、100倍，固定倍數(shù)；監(jiān)視方式顯微鏡和USB接口CCD攝像頭共存的監(jiān)視方式光學參數(shù)...
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探針測試儀+JZ-102D型+探針臺
簡介:JZ-102D型探針測試臺與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。技術(shù)指標：工作臺面370mm*245mm載物臺直徑4可選二種放大倍數(shù)*14-90倍連續(xù)變倍；*17.5-112.5倍連續(xù)變倍；光學參數(shù)手輪調(diào)焦范圍：60mm；...
￥38000
探針測試儀生產(chǎn)
簡介:JZ-102E型探針測試臺與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。技術(shù)指標：工作臺面370mm*245mm載物臺直徑4"可選二種放大倍數(shù)*14-90倍連續(xù)變倍；*17.5-112.5倍連續(xù)變倍；監(jiān)視方式顯微鏡和USB接口CCD攝...
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數(shù)字式四探針測試儀
簡介:JZ-RTS8型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準而設(shè)計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機直...
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