JZ-102A型探針測試臺與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。
技 術(shù) 指 標(biāo) ：
粗調(diào)范圍：360°；微調(diào)范圍：±10°；小刻劃：1°； 銅盤直徑：Φ85mm；絕緣盤直徑：Φ102mm
標(biāo)準(zhǔn)配置：主工作臺、顯微鏡、承片臺、三維微調(diào)架2個(gè)、探針臂2支、探針2支。可選配件：三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。
可按用戶的實(shí)際需求進(jìn)行訂做。
