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OLED TDCF測試系統(tǒng)

OLED TDCF測試系統(tǒng)
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延時采集場測試系統(tǒng)(Time Delayed Collection Field Test System)是用于TDCF實驗的裝置。為了測量樣品在納秒級的瞬態(tài)電流,配置了高性能脈沖激光器和高速脈沖發(fā)生器。該系統(tǒng)允許用戶顯示光電器件的動態(tài)特性,并通過偏壓控制實驗、不同的納米尺度延遲和不同的脈沖波長提取電荷載流子產(chǎn)生、提取和復合的參數(shù)。

主要用于有機半導體測試:

Time Delayed Collection Filed Test System (TDCF)

電荷遷移率測試 (TOF)

瞬態(tài)光致發(fā)光(Tr-PL)

瞬態(tài)電致發(fā)光(Tr-EL)

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