對多通道功率驅動照明和OLED壽命測量進行了優(yōu)化。M6000 PLUS OLED壽命測試系統(tǒng)是用來測試OLED材料在高、低溫之間承受持續(xù)電源或環(huán)境變化的能力，從而了解在指定時間內降解引起的化學變化或物理損傷。適用于OLED器件，Panel,模組；壽命測試結果可作為改進和提高OLED材料質量的參考或依據。
-相對壽命測試
-相對I-V-L試驗
-老化測試
-多電流/光電流范圍
-方序列運算
-利用溫/濕控制腔室進行加速測試
