1、產(chǎn)品特點(diǎn)：
DECTRIS EIGER2 X/XE光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器將混合像素科技中的發(fā)展成果轉(zhuǎn)化成卓越的探測(cè)性能。歸功于其高達(dá)2000Hz的幀率，低于100ns死區(qū)時(shí)間的無損探測(cè)，以及單像素點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)帶來的理想計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)率，使得該探測(cè)器能在線站上采集極為準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。
新型的EIGE2R X/XE 系列探測(cè)器可以為要求極為苛刻的同步輻射應(yīng)用提供的探測(cè)性能。具有連續(xù)讀數(shù)能力以及千赫茲幀速率的成像能力為時(shí)間分辨類實(shí)驗(yàn)和XPCS提供了一種全新的手段，使得像ptychography類的慢速掃描成像技術(shù)成為可能。高分辨率和連續(xù)的衍射實(shí)驗(yàn)受益于較小的成像尺寸，通過X射線的直接轉(zhuǎn)換可以獲得卓越的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)。在理想情況下每單位面積的高計(jì)數(shù)速率可以與持續(xù)增加的波束線亮度相匹配。
2、核心優(yōu)勢(shì)：
- 混合成像計(jì)數(shù)：?jiǎn)喂庾映上裼?jì)數(shù)模式下的X射線直接轉(zhuǎn)換能力
- 千赫幀速率占空比> 99%
- 75μm像素尺寸的高空間分辨率
- 的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)
- 無讀出噪聲和暗電流
- 極其緊湊的外殼
3、應(yīng)用領(lǐng)域：
-X射線光子相關(guān)光譜(XPCS)
- Ptychography(疊層衍射)成像技術(shù)
- 時(shí)間分辨實(shí)驗(yàn)
- 大分子晶體學(xué)(MX)
- 單晶衍射(SCD)
- 粉末衍射(PD)
- 表面衍射
- 小廣角/X光散射(粉煤灰/蠟)
- X射線成像
