產(chǎn)品介紹：
主要用于超薄玻璃，薄膜，柔性器件（OLED,QLED,OPV,鈣鈦礦光伏...）等的反復卷曲&折彎測試，同時可實現(xiàn)測試過程中發(fā)生的折痕，隱裂,光學,電學等的測試.也可提供溫 /濕度環(huán)境下的測試.
| 目錄 | 描述 | |
樣品 | 可測Z大樣品寬度：300mm 可測Z大樣品長度：440mm 如需測試更大樣品，可根據(jù)需求定制. | |
彎曲 | 彎曲方式：動態(tài)內(nèi)部彎曲，靜態(tài) 彎曲次數(shù)：100萬次 R設置：1~10R 彎曲角度：0~180° 彎曲速度：Z大限度 1秒/周期，Z小限度 5秒/周期 | |
選項1 （光學測試） | 光照：中央位置 功能：自動/手動 | |
選項2 （環(huán)境測試） | 溫度：-40℃~100℃ 濕度：30%~98% | |
