F50薄膜厚度均勻性測量儀
依靠F50先進的光譜測量系統(tǒng)，可以很簡單快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動平臺，可以非?？焖俚亩ㄎ凰铚y試的點并測試厚度，測試非?？焖?，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。F50系統(tǒng)配置高精度使用壽命長的移動平臺，確保能夠做成千上萬次測量。
產(chǎn)品名稱：F50薄膜厚度測量儀
品牌：Filmetrics
產(chǎn)品型號：F50
產(chǎn)地：美國
自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)
依靠F50先進的光譜測量系統(tǒng)，可以很簡單快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動平臺，可以非?？焖俚亩ㄎ凰铚y試的點并測試厚度，測試非?？焖?，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。F50系統(tǒng)配置高精度使用壽命長的移動平臺，確保能夠做成千上萬次測量。
系統(tǒng)中預(yù)設(shè)了許多極坐標(biāo)形、方形和線性的圖形模式，也可以編輯自己需要的測試點。只需掌握基本電腦技術(shù)便可在幾分鐘內(nèi)建立自己需要的圖形模式。
可測樣品膜層
基本上所有光滑的。非金屬的薄膜都可以測量?？蓽y樣品包括：
量測原理
當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導(dǎo)致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率,我們可以判斷我們可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度（愈多的震蕩代表較大的厚度）。而其他的材料特性如折射率與粗糙度也能同時測量。
FILMeasure軟件提供兩種分析模式：
Sepectru-Matching與FFT。在Spectrum-Matching模式中，您可以分析厚度與折射率。反正，F(xiàn)TT模式雖然只能測量厚度，但在較厚的薄膜厚度測量，F(xiàn)FT的分析能力更為健全。
FILMapper軟件-自動測量
測繪圖案繪制
用戶能隨心所欲的繪制所需的圖案，操作功能方便省時
測繪圖案參數(shù)：
?圓形/方形
?放射狀
?中心或邊緣排除
?點位密度
2D和3D的測繪
不論是反射率，厚度還是折射率的測量，都可以用2D或3D呈現(xiàn)。測繪結(jié)果能依不同的需要做調(diào)整，參數(shù)設(shè)定簡單容易。測繪圖能從不同的角度檢視。
