產(chǎn)品簡介：
可用于各類二極管（Diode）以及可控硅（SCR）的正向浪涌電流（IFSM）試驗，包括三極管（Triode）、MOSFTE、IGBT等全控器件的內(nèi)置二極管的浪涌測試。
二極管元件在實際使用中，除了能長期通過額定通態(tài)平均電流外，還應(yīng)能承受一定倍數(shù)的浪涌過載電流而不致?lián)p壞，以便適應(yīng)在各種應(yīng)用中的要求。二極管浪涌過載電流如果超過其允許范圍，輕者引起元件性能變壞（如伏安特性、通態(tài)峰值電壓的變化），重者造成燒毀穿通而失去反向阻斷能力。通過浪涌過載電流測試合格的器件，可以大大提高其在使用中的可靠性。
技術(shù)指標：
> 浪涌電流（IFSM/ITSM）調(diào)節(jié)范圍：0.30～3.60kA
> 分辨率0.01kA，精度±3%±0.01kA
> 電流波形：正弦半波，底寬10ms
> 測試頻率：單次
> 反向電壓（VRRM）調(diào)節(jié)范圍：0.20～2.00kV，分辨率0.01kV，精度±5％
> 反向電壓測試頻率：50Hz；
> 反漏電流（IRRM）測試范圍；1.0～100.0mA，分辨率0.1mA，精度±5％±0.1mA
工作方式：
> 由觸摸液晶屏設(shè)定浪涌電流大小、反向電壓值及反向漏電流保護值
> 按測試按鍵后設(shè)備自動完成測試
外形尺寸：
> 600×800×1900×1（寬×深×高×并柜數(shù)，單位：mm）
系統(tǒng)說明：
> 上述設(shè)備配置輸出及測試線,但不含測試用“夾具”。該“夾具”用于滿足元件按照標準進行測試時所要求的溫度和壓力測試條件。
