教育裝備采購網(wǎng)訊：據(jù)美國物理學家組織網(wǎng)近日報道，美國加利福尼亞大學圣地亞哥分校物理學家開發(fā)出一種新型X光顯微鏡，不僅能透視材料內(nèi)部結構，而且洞察之細微達到了納米水平。該顯微鏡有助于開發(fā)更小的數(shù)據(jù)存儲設備，探測物質(zhì)化學成分，拍攝生物組織結構等。研究論文發(fā)表在《美國國家科學院院刊》上。
X光納米顯微鏡不是通過透鏡成像，而是靠強大的算法程序計算成像。“這種數(shù)學運算方法相當復雜，其原理有點像哈勃太空望遠鏡，就是讓最初看到的模糊圖像變得清晰鮮明。”領導該研究的加州大學圣地亞哥分校副教授奧里格·夏佩克解釋說，X光探測到物質(zhì)的納米結構后，會生成衍射圖案，計算機按照運算法則將這種衍射圖案轉(zhuǎn)化為可辨認的精細圖像。
“在目前的磁盤表面上，1個磁比特約15納米大小。我們的顯微鏡能直接拍攝到比特位，這對拓展未來的數(shù)據(jù)存儲能力打開了新空間。”論文合著者、該校電學與計算機工程教授、磁記錄研究中心的埃里克·富勒頓說。
此外，該顯微鏡還能用于其他領域。通過調(diào)節(jié)X光的能量，還能用它來觀察材料內(nèi)部有哪些元素，這在化學上是非常重要的。在生物學領域，用X光給病毒、細胞及各種不同的組織拍照，要比用可見光拍出來的效果好得多。
