方塊電阻的簡介以及影響探頭法測試方阻度的因素:

　　簡介

　　Sheet resistance

　　蒸發(fā)鋁膜、導(dǎo)電漆膜、印制電路板銅箔膜等薄膜狀導(dǎo)電材料，衡量它們厚度的好方法就是測試它們的方阻。什么是方阻呢?方阻就是方塊電阻，個正方形的薄膜導(dǎo)電材料邊到邊"之"間的電阻，如圖所示，即B邊到C邊的電阻值。

　　方塊電阻又稱膜電阻，是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值，該數(shù)值大小可直接換算為熱紅外輻射率。方塊電阻的大小與樣品尺寸無關(guān)，其單位為Siements/sq，后增加歐姆/sq表征方式，該單位直接翻譯為方塊電阻或者面電阻，用于膜層測量又稱為膜層電阻。

　　影響探頭法測試方阻度的因素:

　　(1)要求探頭邊緣到材料邊緣的距離大大于探針間距，般要求10倍以上。

　　(2)要求探針頭之間的距離相等，否則就要產(chǎn)生等比例測試誤差。

　　(3)理論上講探針頭與導(dǎo)電薄膜接觸的點越小越好。但實際應(yīng)用時，因針狀電容易破壞被測試的導(dǎo)電薄膜材料，所以般采用圓形探針頭。

　　后談?wù)剬嶋H應(yīng)用中存在的問題

　　1、如果被測導(dǎo)電薄膜材料表面上不干凈，存在油污或材料暴露在空氣中時間過長，形成氧化層，會影響測試穩(wěn)定性和測試度。在測試中需要引起注意。

　　2、如探頭的探針存在油污等也會引起測試不穩(wěn)，此時可以把探頭在干凈的白紙上滑動幾下擦擦可以了。

　　3、如果材料是蒸發(fā)鋁膜等，蒸發(fā)的厚度又太薄的話，形成的鋁膜不能均勻的連成片，而是形成點狀分布，此時方塊電阻值會大大增加，與通過稱重法計算的厚度和方阻值不樣，因此，此時就要考慮到加入修正系數(shù)。

　　北京恒奧德儀器儀表有限公司主營 液氮治療儀，電測水位計，空盒氣壓表，奧氏氣體分析儀，四聯(lián)自動射流萃取器，煙塵煙氣分析儀，便攜式煙氣分析儀，金屬粉末流動性測定儀， 污垢熱阻檢測儀 ，數(shù)字式大氣壓計 ，不銹鋼自動溶液過濾器，紫外輻照計，氫氣發(fā)生器，露點傳感器 ，紅外測油儀 ，污染數(shù)SDI測定儀，三聚氰胺速測儀 ，粉體綜合性測試儀 粉體性測試儀 放射性檢測儀，防靜電表/靜電測試儀/ 濕式氣體流量計 氣體流量計 流量計 溴化汞試紙等。公司秉承“顧客至上，銳意取”的經(jīng)營理念，堅持“客戶”的原則為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。歡迎惠顧!