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美華儀為您介紹數(shù)字式四探針測(cè)試儀

數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而的，用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的用儀器。儀器由主...

2019-01-07 圍觀416次 [應(yīng)用]

恒奧德本月回饋老客戶特惠四探針測(cè)試儀

恒奧德本月回饋老客戶惠儀器四探針測(cè)試儀數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電...

2017-11-02 圍觀420次 [簡(jiǎn)訊]

方塊電阻簡(jiǎn)介及影響測(cè)試方阻度的因素

方塊電阻的簡(jiǎn)介以及影響探頭法測(cè)試方阻度的因素:簡(jiǎn)介Sheetresistance蒸發(fā)鋁膜、導(dǎo)電漆膜、印制電路板銅箔膜等薄膜狀導(dǎo)電材料，衡量它們厚度的好方法就是測(cè)試它們的方阻。什么是方阻呢?方阻就是方...

2016-11-07 圍觀2568次 [維修]

方塊電阻測(cè)試儀/方塊電阻測(cè)定儀/四探針方塊電阻測(cè)試儀型號(hào)：DP-XX-2術(shù)參數(shù)

2016-03-28 圍觀260次 [應(yīng)用]

低阻型四探針檢測(cè)儀/方阻儀/四探針電阻率檢測(cè)儀型號(hào);DP-KDY-1術(shù)參數(shù)

低阻型四探針檢測(cè)儀/方阻儀/四探針電阻率檢測(cè)儀型號(hào);DP-KDY-1儀器采用GB/T1552-1995硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直排四探針法（2）范圍：電阻率10-5～10+3歐姆·厘米，分辨率為10-5歐姆·厘米方塊電阻1...

2016-03-18 圍觀366次 [應(yīng)用]

方塊電阻測(cè)試儀/電阻測(cè)試儀

方塊電阻測(cè)試儀/電阻測(cè)試儀?方塊電阻測(cè)試儀是種依照類似的家標(biāo)準(zhǔn)和美A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測(cè)量般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄...

2015-04-24 圍觀211次 [應(yīng)用]

四探針電阻率測(cè)定儀

RTS-8型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。

2015-03-14 圍觀200次 [應(yīng)用]