喜訊
2019年8月，國內(nèi)套奧地利GETec公司掃描電鏡專用原位AFM探測系統(tǒng)（AFSEM）在中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所曾毅教授課題組順利交付使用。
奧地利GETec公司掃描電鏡專用原位AFM探測系統(tǒng)現(xiàn)場安裝培訓(xùn)
納米 新探索
奧地利GETec公司發(fā)布的AFSEM是一款緊湊型，適用于真空環(huán)境的AFM產(chǎn)品，能夠輕松地與SEM結(jié)合為一體，大地?cái)U(kuò)展SEM樣品成像和分析能力，實(shí)現(xiàn)了AFM和SEM的功能性互補(bǔ)。AFSEM技術(shù)與SEM技術(shù)的結(jié)合，是人們對(duì)納米新探索的重要工具之一。
GETec AFSEM 系統(tǒng)安裝示意圖及實(shí)物圖
中國科學(xué)研究院硅酸鹽研究所曾老師課題組主要從事材料顯微結(jié)構(gòu)表征技術(shù)研究，在掃描電鏡使用操作方面具有豐富的經(jīng)驗(yàn)。本次交付的AFSEM系統(tǒng)結(jié)合了課題組已有的美國FEI電鏡Versa? 3D 雙束掃描電鏡，該強(qiáng)有力地結(jié)合，可將SEM已有的樣品表面分析成像功能擴(kuò)展到AFM探測領(lǐng)域，同時(shí)也將幫助曾老師課題組在材料顯微結(jié)構(gòu)方面的研究，我們也祝愿曾老師在未來的科研工作中取得累累成果。
同時(shí)，GETec公司也非常關(guān)注此次安裝，同期9月，奧地利政府經(jīng)濟(jì)商會(huì)訪問團(tuán)在上海大學(xué)參與政府組織的學(xué)術(shù)研討活動(dòng)，會(huì)后邀請(qǐng)其國內(nèi)外專家人士參觀曾老師課題組，并順利舉辦有關(guān)GETec技術(shù)應(yīng)用研討會(huì)，將奧地利公司及研究機(jī)構(gòu)與上海大學(xué)及研究機(jī)構(gòu)緊密聯(lián)系在一起。研討會(huì)上，奧地利GETec公司介紹了AFSEM的新發(fā)展并討論其應(yīng)用。
奧地利GETec公司國內(nèi)舉辦研討會(huì)及現(xiàn)場儀器操作演示
【產(chǎn)品詳情】
1.掃描電鏡專用原位AFM探測系統(tǒng)：http://www.qd-china.com/products2.aspx?id=452
