安裝篇
2020年春節(jié)前夕，通過工程師的安裝調(diào)試和細(xì)致的講解培訓(xùn)，第二代電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡（PSM II）在杭州創(chuàng)新研究院順利安裝并完成驗收。該系統(tǒng)是國內(nèi)第二套PSM II，也是國內(nèi)第六套PSM。PSM II將用于塊體和薄膜熱電材料的塞貝克系數(shù)、均勻度檢測與新型熱電材料的研究。這套設(shè)備的投入使用將幫助杭州創(chuàng)新研究院在熱電材料領(lǐng)域取得更快的發(fā)展。
德國工程師Dieter Platzek（中）與用戶老師合影
設(shè)備篇
電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡是由德國PANCO公司與德國宇航中心聯(lián)合研發(fā)的一款可以測量熱電材料Seebeck系數(shù)二維分布的設(shè)備。自推出以來，該設(shè)備獲得全球多個實驗室的一致好評，已經(jīng)成為快速檢測樣品性能的重要手段。后經(jīng)研發(fā)人員的進一步升，全新推出的第二代電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡-PSM II具有更高的位置分辨率和測量精度。
產(chǎn)品特點：
- 可以測量Seebeck系數(shù)二維分布的全球商業(yè)化設(shè)備。
- 的力學(xué)傳感器可以確保探針與樣品良好的接觸。
- 采用鎖相技術(shù)，精度超過大型測試設(shè)備。
- 快速測量、方便使用，可測塊體和薄膜。
主要技術(shù)參數(shù)：
- 位置定位精度：單向 0.05μm；雙向 1μm
- 大掃描區(qū)域：100 mm × 100 mm
- 測量區(qū)域精度：5μm (與該區(qū)域的熱傳導(dǎo)有關(guān))
- 信號測量精度：100 nV （采用高精度數(shù)字電壓表）
- 測量結(jié)果重復(fù)性：重復(fù)性誤差優(yōu)于3%
- 塞貝克系數(shù)測量誤差：< 3% (半導(dǎo)體)；< 5% (金屬)
- 電導(dǎo)率測量誤差：< 4%
- 測量速度：測量一個點的時間4~20秒
應(yīng)用領(lǐng)域：
- 熱電材料、超導(dǎo)材料、燃料電池、電子陶瓷以及半導(dǎo)體材料的均勻度測量
- 測量功能梯度材料的梯度
- 觀察材料退化效應(yīng)
- 監(jiān)測 NTC/PTC 材料的電阻漂移
- 固體電介質(zhì)材料中的傳導(dǎo)損耗
- 陰材料的電導(dǎo)率損耗
- 巨磁阻材料峰值溫度的降低，電阻率的變化
- 樣品的質(zhì)量監(jiān)控
電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡-PSM II
