單晶體的最大特點(diǎn)是各向異性，這也意味著無(wú)論在制備、使用還是研究單晶體時(shí)，都必須知道其取向。例如，在Si半導(dǎo)體集成器件和大規(guī)模集成電路的制備中，就需表面為{1 1 1}或{1 0 0}面的基片。此外，在晶體缺陷和相變的研究中，也需要考慮單晶體的位向問(wèn)題。
X射線衍射方法的出現(xiàn)，在無(wú)損、準(zhǔn)確地解決單晶定向難題的基礎(chǔ)上，還能提供晶體內(nèi)部微觀完整性的信息。日本Pulstec公司基于特有的圓形全二維面探測(cè)器技術(shù)研發(fā)推出了新一代X射線單晶定向系統(tǒng)s-Laue。該設(shè)備配備六軸樣品臺(tái)，具有功率小（30 KV/1.5 mA）、操作簡(jiǎn)單、測(cè)試效率高（典型測(cè)試時(shí)間為60秒）等特點(diǎn)。同時(shí)，s-Laue提供臺(tái)式、便攜式兩種類型設(shè)備，即能滿足實(shí)驗(yàn)室小樣品單晶定向需求，還可用于大型零件的現(xiàn)場(chǎng)晶體定向應(yīng)用。
新一代X射線單晶定向系統(tǒng)s-Laue
部分用戶單位：
由于上述突出的特點(diǎn)和明顯的優(yōu)勢(shì)，s-Laue自推出以來(lái)受到科研工作者的廣泛關(guān)注，目前已有國(guó)內(nèi)外多個(gè)客戶選擇其用于其單晶體的科研工作。
部分測(cè)試數(shù)據(jù)展示：
單晶硅測(cè)試結(jié)果 Al2O3測(cè)試結(jié)果
樣機(jī)體驗(yàn)：
為了便于廣大客戶全面了解和親身體驗(yàn)新一代X射線單晶定向系統(tǒng)s-Laue，Quantum Design中國(guó)公司引進(jìn)了s-Laue樣機(jī)，目前該設(shè)備已安裝于我公司實(shí)驗(yàn)室并調(diào)試完畢。即日起，我們歡迎對(duì)該設(shè)備感興趣的老師和同學(xué)來(lái)訪，我們?cè)赒uantum Design中國(guó)樣機(jī)實(shí)驗(yàn)室恭候大家的到來(lái)。
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