摘要：本實(shí)用新型公開了一種無源RFID電子標(biāo)簽卡諧振頻點(diǎn)測試裝置，包括殼體，殼體內(nèi)封裝有增益匹配網(wǎng)絡(luò)、諧振電路和載波檢波電路，殼體的頂部設(shè)置有測試平臺(tái)，其結(jié)構(gòu)簡單，架構(gòu)合理，成本低，測試精度高，可以分別測試LF頻段和HF頻段的RFID電子標(biāo)簽卡，能夠替代價(jià)格高昂的進(jìn)口專業(yè)設(shè)備，適合RFID電子標(biāo)簽卡頻點(diǎn)測試的各種場合使用，完全可以滿足RFID電子標(biāo)簽卡生產(chǎn)封裝廠商在生產(chǎn)線上大批量對(duì)RFID電子標(biāo)簽卡進(jìn)行頻率檢測的要求，從而保證了RFID電子標(biāo)簽卡的質(zhì)量，有效提高了生產(chǎn)效率和產(chǎn)品競爭力，為非接觸RFID電子標(biāo)簽卡的研發(fā)和生產(chǎn)線檢測提供了有力的技術(shù)保障。
- 專利類型實(shí)用新型
- 申請(qǐng)人中山達(dá)華智能科技股份有限公司;
- 發(fā)明人蔡凡弟;任金泉;孫洋;
- 地址524815 廣東省中山市小欖鎮(zhèn)泰豐工業(yè)區(qū)水怡南路9號(hào)
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201020656144.X
- 申請(qǐng)時(shí)間2010年12月08日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN202013379U
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2011年10月19日
- 分類號(hào)G01R23/02(2006.01)I;G06K7/00(2006.01)I;
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