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小而輕的便攜式X射線殘余應(yīng)力分析儀-μ-X360J

小而輕的便攜式X射線殘余應(yīng)力分析儀-μ-X360J
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Pulstec
μ-X360J
日本Pulstec公司
高教
日本
上海交通大學(xué),北京科技大學(xué),清華大學(xué),山東大學(xué),西南交通大學(xué),北京交通大學(xué),上海大學(xué),東北大學(xué),河南科技大學(xué),南京航空航天大學(xué),武漢理工大學(xué),重慶大學(xué)
詳細(xì)說明


小而輕的便攜式X射線殘余應(yīng)力分析儀-μ-X360J / μ-X360s


— 滿足日本標(biāo)準(zhǔn)JSMS-SD-14-20


X射線是表面殘余應(yīng)力測定技術(shù)中為數(shù)不多的無損檢測法之一,是根據(jù)材料或制品晶面間距的變化測定應(yīng)力的,至今仍然是研究得較為廣泛、深入、成熟的殘余應(yīng)力分析和檢測方法之一,被廣泛的應(yīng)用于科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)的各領(lǐng)域。2012年日本Pulstec公司開發(fā)出基于全二維探測器技術(shù)的新一代X射線殘余應(yīng)力分析儀——μ-X360n,將利用X射線研究殘余應(yīng)力的測量速度和精度推到了一個(gè)全新的高度,設(shè)備推出不久便得到業(yè)界好評(píng)。由于其技術(shù)之先進(jìn)、測試數(shù)據(jù)可重復(fù)性之高、使用之便攜,設(shè)備一經(jīng)推出便備受業(yè)界青睞!

近期,日本Pulstec公司成功克服技術(shù)難點(diǎn),繼μ-X360n,μ-X360s之后又發(fā)布了新的產(chǎn)品型號(hào):μ-X360J,將全二維面探測器技術(shù)的產(chǎn)品設(shè)計(jì)和功能完善再次升!





產(chǎn)品特點(diǎn):

相較于傳統(tǒng)的X射線殘余應(yīng)力測定儀,基于全二維探測器技術(shù)的μ-X360系列具有以下優(yōu)點(diǎn):

更快速:二維探測器一次性采集獲取完整德拜環(huán),單角度一次入射即可完成殘余應(yīng)力測量。

更精準(zhǔn):X射線單次曝光可獲得500個(gè)衍射峰進(jìn)行殘余應(yīng)力數(shù)據(jù)擬合,結(jié)果更精準(zhǔn)。

更輕松:無需測角儀,單角度一次入射即可,復(fù)雜形狀和狹窄空間的測量不再困難。

更方便:無需任何液體冷卻裝置,支持便攜電池供電。

更強(qiáng)大:支持?jǐn)U展區(qū)域應(yīng)力分布自動(dòng)測量功能,具備晶粒尺寸均勻性、材料織構(gòu)、殘余奧氏體含量分析等功能。


基本參數(shù):

準(zhǔn)直器尺寸標(biāo)配:直徑1mm(其他尺寸可選)
X射線管經(jīng)典參數(shù)

μ-X360s:30KV  1.5mA;μ-X360J:30KV   1.6mA

X射線管所用靶材標(biāo)配:鉻靶(可選配其他) 
是否需要冷卻水無需
是否需要測角儀 無需 
X射線入射角度 單一入射角即可獲取全部數(shù)據(jù) 
所用探測器二維探測器
直接測量參數(shù) 殘余應(yīng)力 衍射峰的半峰高全寬 
電源參數(shù) 130W功率 110-240V 50-60HZ 
可否戶外現(xiàn)場檢測 設(shè)備便攜、支持便攜電池供電 


測試原理概述:

全二維面探測器技術(shù)

--單角度一次入射后,利用二維探測器獲得完整德拜環(huán)。通過比較沒有應(yīng)力時(shí)的德拜環(huán)和有應(yīng)力狀態(tài)下的變形德拜環(huán)的差別來計(jì)算應(yīng)力下晶面間距的變化以及對(duì)應(yīng)的應(yīng)力

--施加應(yīng)力后,分析單次入射前后德拜環(huán)的變化,即可通過殘余應(yīng)力分析軟件獲得殘余應(yīng)力數(shù)據(jù)。


應(yīng)用軟件:

1. 采用全二維面探測器獲取完整德拜環(huán),X射線單角度一次入射即可完成應(yīng)力測量

2. 全自動(dòng)軟件測量殘余應(yīng)力并可顯示出半峰寬數(shù)值

3. 內(nèi)在定位標(biāo)記和CCD相機(jī)方便樣品定位,操作其簡單快捷 

4. 快捷進(jìn)入預(yù)設(shè)各種材料測量條件,一鍵執(zhí)行測量  






晶粒取向分析










晶粒均勻性分析











應(yīng)用領(lǐng)域:

1.  機(jī)械加工領(lǐng)域:測量機(jī)床、焊接、鑄造、鍛壓、裂紋等構(gòu)件的殘余應(yīng)力。

2.  冶金行業(yè):測量熱壓、冷壓、煉鐵、煉鋼、煉鑄等工業(yè)生產(chǎn)構(gòu)件的殘余應(yīng)力。 

3. 各種零配件制造:測量電站汽輪機(jī)制造、發(fā)動(dòng)機(jī)制造、油缸、壓力容器、管道、陶瓷、裝配、螺栓、彈簧、齒輪、軸承、軋輥、曲軸、活塞銷、萬向節(jié)、機(jī)軸、葉片、刀具等工業(yè)產(chǎn)品的殘余應(yīng)力。

4. 表面改性處理:測量滲氮、滲碳、碳氮共滲、淬火、硬化處理、噴丸、振動(dòng)沖擊、擠壓、滾壓、金剛石碾壓、切削、磨削、車(銑)、機(jī)械拋光、電拋光等工藝處理后構(gòu)件中的殘余應(yīng)力。

5. 民生基礎(chǔ)建設(shè)領(lǐng)域:

(1)海洋領(lǐng)域:測量船舶、海洋、石油、化工、起重、運(yùn)輸、港口等領(lǐng)域設(shè)備和設(shè)施的殘余應(yīng)力。

(2)能源領(lǐng)域:測量核工業(yè)、電力(水利水電、熱電核電)、水利工程、天然氣工程等領(lǐng)域的設(shè)備和設(shè)施的殘余應(yīng)力。

(3)基礎(chǔ)建設(shè)工程領(lǐng)域:測量挖掘、橋梁、汽車、鐵路、航空航天、交通、鋼結(jié)構(gòu)等工程領(lǐng)域所用材料、構(gòu)件及其它相關(guān)設(shè)備設(shè)施的殘余應(yīng)力。

6. 國防軍工領(lǐng)域:測量武器裝備、重型裝備等軍工產(chǎn)品的殘余應(yīng)力。


設(shè)備選件


1. 殘留奧氏體分析

用于提供自動(dòng)計(jì)算剩余奧氏體含量的軟件分析功能

2. XY掃描控制臺(tái)

用于在平面內(nèi)X方向和Y方向調(diào)節(jié)探測器位置,并對(duì)樣品表面進(jìn)行殘余應(yīng)力區(qū)域測試,X、Y方向的行程為20cm(15cm可選)

3. 電解拋光裝置

用電化學(xué)腐蝕的方法對(duì)金屬表面做剝層處理

4. 振蕩單元裝置

用于粗晶樣品殘余應(yīng)力測試

5.多種靶材可供選擇

用戶可以自己更換X射線靶材以滿足更廣的測試材料需求,可換靶材包括:Cr,V,Cu,Co,Mn 


      殘余應(yīng)力直接影響金屬制品的疲勞強(qiáng)度、抗應(yīng)力、腐蝕能力、尺寸穩(wěn)定性和使用壽命,因此在工業(yè)和軍事等部門受到普遍重視?;谌S探測器分析方法的新一代殘余應(yīng)力分析儀不僅精度更高,而且不再需要測角儀、不再需要多個(gè)入射角才能完成測量、不再需要冷水機(jī),因此將大改善了復(fù)雜形狀部件檢測、狹窄空間檢測、野外工程現(xiàn)場檢測、大面積部件檢測等測量的難度,具有更廣泛的應(yīng)用。在實(shí)驗(yàn)室內(nèi),基于全二維探測器分析方法的便攜式X射線殘余應(yīng)力分析儀可以用來檢測焊接處疲勞,齒輪,圓棒,角焊縫,機(jī)軸狹窄區(qū),彈簧等;在戶外工程中,它可以用來檢測管道焊縫,油罐焊縫,除掉外層水泥的建筑內(nèi)層,橋梁金屬,高速鐵軌等。

 

■    實(shí)驗(yàn)室內(nèi)輕松勝任各種部件檢測 — —快速、高精度、復(fù)雜形狀全面分析    

   

 


■    戶外工程現(xiàn)場原位殘余應(yīng)力應(yīng)力檢測— —變得如此簡單

 


  • 可裝便攜箱,整機(jī)重約8.8公斤,單手可攜帶

  • 設(shè)備體積小巧,可現(xiàn)場檢測龐大物體

  • 無需測角儀,一個(gè)入射角完成全部測量,現(xiàn)場測量不再受空間限制

  • 電池即可支持工作


 

(a)橋梁檢測 (b)輥軸檢測 (c)油罐焊縫檢測



■ 噴丸領(lǐng)域應(yīng)用

 

      近日,Yuji Kobayashi博士在噴丸工藝制備的應(yīng)力標(biāo)樣基礎(chǔ)上,比較了sin2Ψ和cosα兩種殘余應(yīng)力分析方法下所測得的殘余應(yīng)力測試數(shù)據(jù),進(jìn)一步驗(yàn)證了基于全二維面探技術(shù)的cosα殘余應(yīng)力分析方法測試結(jié)果的可靠性,相關(guān)結(jié)果已發(fā)表在雜志《The Shot Peener》上,詳見:Summer 2019,Volume 33, Issue 3 | ISSN 1069-2010。文章中所采用的基于全二維面探技術(shù)的殘余應(yīng)力測試設(shè)備為日本Pulstec公司制造的型號(hào)為μ-X360s的新一代便攜式X射線殘余應(yīng)力分析儀。該設(shè)備將全二維面探測器技術(shù)的產(chǎn)品設(shè)計(jì)和功能再次完善升。相比于傳統(tǒng)X射線殘余應(yīng)力測定儀,該設(shè)備具有更快速的測量時(shí)間(二維探測器一次性采集獲取完整德拜環(huán),單角度一次入射即可完成測量,全過程平均約60秒),更的測試結(jié)果(一次測量可獲得500個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)進(jìn)行殘余應(yīng)力數(shù)據(jù)擬合,結(jié)果更),更便利的測試條件(測量精度高,無需冷卻水),以及更強(qiáng)大的測試功能(具備區(qū)域應(yīng)力自動(dòng)測量功能,晶粒大小、材料織構(gòu)、殘余奧氏體分析等功能),深受機(jī)械加工、民生基礎(chǔ)建設(shè)、國防軍工等領(lǐng)域廣大同行的青睞。 


案例導(dǎo)圖:

基于全二維面探測器技術(shù)獲得的德拜環(huán)衍射圖像

 

 

Yuji Kobayashi博士用到的應(yīng)力標(biāo)樣


以上圖片來源:《The Shot Peener》Summer 2019,Volume 33, Issue 3 | ISSN 1069-2010

 

■ 三維應(yīng)力分析及利用

 

      目前已經(jīng)有越來越多的同行專家和學(xué)者開始對(duì)μ-X360系列以及該設(shè)備所采用的的方法感興趣。尤其,基于cosα方法的殘余應(yīng)力分析儀設(shè)備因?yàn)橐苿?dòng)方便,使得對(duì)滾動(dòng)接觸疲勞進(jìn)行原位評(píng)估成為可能。Takumi Fujita等人的工作表明[1]:基于德拜環(huán)的應(yīng)力分析儀跟傳統(tǒng)的X射線衍射應(yīng)力分析儀相比,可快速獲得疲勞、斷裂準(zhǔn)則、裂紋萌生以及滾動(dòng)接觸次表面安定限等信息;而且,該系統(tǒng)不僅可以用來研究滾動(dòng)接觸疲勞機(jī)理還可對(duì)滾動(dòng)接觸疲勞的演變程度進(jìn)行定量評(píng)估。Takumi Fujita等人發(fā)表的文章中,關(guān)于三維應(yīng)力測量及德拜環(huán)測量所采用的設(shè)備就是日本Pulstec公司制造的型號(hào)為μ-X360的X射線殘余應(yīng)力分析儀設(shè)備。


參考文獻(xiàn)

[1]. Evaluation of Rolling Contact Fatigue Using X-Ray Diffraction Ring, Materials Performance and Characterization, Vol.5,,2016,pp23-37.


測試數(shù)據(jù)


■  無應(yīng)力鐵粉的殘余應(yīng)力測試結(jié)果


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■  鈦合金( TC4 )殘余應(yīng)力測試結(jié)果:內(nèi)孔位置原位測量


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發(fā)表文章


1. K. Ito et al. / Materials and Design 61 (2014) 275-280 

2. J.-S. Wang et al. / Materials Characterization 99 (2015) 248–253 

3. R. Gadallah et al. / Marine Structures 44 (2015) 232e253 

4. J.S. Robinson, W. Redington / Materials Characterization 105 (2015) 47–55 

5. K. Sugimoto et al. / International Journal of Fatigue, Volume 100, Part 1, July 2017, Pages 206-214 

6. Tanaka / Mechanical Engineering Reviews, Vol.6,  (2019) 

7. N. Karunathilaka et al. / Metals 2019, 9, 783 

8. R. Hajavifard et al. / Materials 2019, 12, 1646 

9. M. Knyazeva et al. / Materials 2018, 11, 2290

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