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小而輕的便攜式X射線殘余應(yīng)力分析儀-μ-X360J
簡(jiǎn)介:小而輕的便攜式X射線殘余應(yīng)力分析儀-μ-X360J/μ-X360s—滿足日本標(biāo)準(zhǔn)JSMS-SD-14-20X射線是表面殘余應(yīng)力測(cè)定技術(shù)中為數(shù)不多的無(wú)損檢測(cè)法之一，是根據(jù)材料或制品晶面間距的變化測(cè)定應(yīng)力的，至今仍然是研究得較為廣泛、深入、成熟的殘余應(yīng)力分析和檢測(cè)方法之一，被廣泛的應(yīng)用于科學(xué)研...
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