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塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)
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產(chǎn)品報(bào)價(jià): 面議
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ADVANCE RIKO
ZEM-3
日本ADVANCE RIKO公司
高教
日本
詳細(xì)說明

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)ZEM

——定量測量熱電材料的塞貝克系數(shù)和電阻

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

  

產(chǎn)品介紹:

  塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對金屬或半導(dǎo)體材料的熱電性能的評估。作為ZEM的特點(diǎn),塞貝克系數(shù)和電阻都可以用一種儀器來測量。

  

產(chǎn)品特點(diǎn):

  ■  擁有溫度控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器;

  ■  測量是由計(jì)算機(jī)控制的,并且能夠在指定的溫度下執(zhí)行測量,并允許自動測量消除背底電動勢;

  ■  歐姆接觸自動檢測功能(V-I圖);

  ■  可以用適配器來測量薄膜;

  ■  可定制高阻型。

  

產(chǎn)品結(jié)構(gòu):

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

  

樣品腔部分:

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

  

工作原理圖:

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

  

應(yīng)用方向:

  對于半導(dǎo)體,陶瓷材料,金屬材料等多種材料的熱電性能分析。

  

可選功能:

  1. 薄膜測量選件  

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

  2.低溫選件(溫度范圍-100℃到200℃)

  3.高阻選件(到10MΩ;)

  

參數(shù)配置:

型號

ZEM-3M8

ZEM-3M10

溫度范圍

50-800℃

50-1000℃

樣品大小

方形2-4mm*6-22mmL 或者 圓形Φ2-4mm*6-22mmL

加熱方式

紅外加熱

氣氛

高純氦氣(99.999%)

樣品溫差

MAX.50℃

測量方式

電腦全自動測量

  

附:

熱電材料/器件測試設(shè)備

熱電材料測試設(shè)備

熱電轉(zhuǎn)換效率測試設(shè)備

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

  

測試數(shù)據(jù)

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

燒結(jié)P型Si80Ge20塞貝克系數(shù)及電阻率測量結(jié)果

  

發(fā)表文章

  1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945 

  2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407 

  3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114 

  4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810 

  5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.

  

用戶單位

  清華大學(xué)

  中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)

  上海交通大學(xué)

  復(fù)旦大學(xué)

  南方科技大學(xué)

  武漢理工大學(xué)

  中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所

  中國科學(xué)院大連化學(xué)物理研究所

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