子設(shè)計(jì)綜合試驗(yàn)箱是針對(duì)電子信息類專業(yè)學(xué)生《電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)》、《課程設(shè)計(jì)》以及畢業(yè)設(shè)計(jì)、電子設(shè)計(jì)競(jìng)賽培訓(xùn)、大學(xué)生電子系統(tǒng)創(chuàng)新設(shè)計(jì)等實(shí)驗(yàn)實(shí)踐教學(xué)開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)的。該平臺(tái)以單片機(jī)與FPGA、CPLD為核心設(shè)計(jì)的綜合設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)。系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，綜合了單片機(jī)、FPGA、CPLD以及數(shù)字電子技術(shù)、模擬電子技術(shù)等知識(shí)。
該實(shí)驗(yàn)平臺(tái)提供了單片機(jī)開(kāi)發(fā)板、FPGA開(kāi)發(fā)板、液晶顯示模塊、LED顯示模塊、CPLD模塊以及2路低速D/A轉(zhuǎn)換、8路低速A/D轉(zhuǎn)換、2路高速D/A轉(zhuǎn)換電路等。具體結(jié)構(gòu)如下圖：
學(xué)生可根據(jù)具體的實(shí)驗(yàn)要求和設(shè)計(jì)要求設(shè)計(jì)電子系統(tǒng)的前向通道、后向通道，并插入該實(shí)驗(yàn)平臺(tái)的擴(kuò)展座上，并和實(shí)驗(yàn)平臺(tái)相關(guān)模塊接口后就可以進(jìn)行相應(yīng)的軟硬件調(diào)試和測(cè)試。可完成較為復(fù)雜的綜合性、設(shè)計(jì)性、創(chuàng)新性實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目。
核心模塊，如單片機(jī)開(kāi)發(fā)板、FPGA開(kāi)發(fā)板、CPLD模塊等可獨(dú)立使用，可作為學(xué)生學(xué)習(xí)《單片機(jī)》、《EDA技術(shù)》等課程的學(xué)習(xí)板。實(shí)驗(yàn)平臺(tái)上的儀器模塊是全開(kāi)放的，學(xué)生可在該實(shí)驗(yàn)平臺(tái)上可做二次開(kāi)發(fā)，也可以通過(guò)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)上各模塊的組合，開(kāi)發(fā)、設(shè)計(jì)出不同的電子系統(tǒng)。
該實(shí)驗(yàn)平臺(tái)也可作為電子技術(shù)綜合課程設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)、學(xué)生開(kāi)放實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目、創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目的訓(xùn)練實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，以及本科生的單片機(jī)與FPGA的入門級(jí)教學(xué)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，同時(shí)該實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)也可作為研究生、電子工程師等使用者的開(kāi)發(fā)平臺(tái)和輔助培訓(xùn)工具。開(kāi)發(fā)工程師可使用VHDL語(yǔ)言、Verilog語(yǔ)言、原理圖，結(jié)合Quartus II集成開(kāi)發(fā)環(huán)境開(kāi)發(fā)FPGA的應(yīng)用，使用C語(yǔ)言或匯編語(yǔ)言開(kāi)發(fā)單片機(jī)應(yīng)用程序。
該實(shí)驗(yàn)平臺(tái)實(shí)物對(duì)應(yīng)模塊如圖2。
基于該實(shí)驗(yàn)平臺(tái)可開(kāi)設(shè)的單片機(jī)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目：
(1) 單片機(jī)定時(shí)器實(shí)驗(yàn);
(2) 單片機(jī)中斷實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目;
(3) 數(shù)字鐘綜合設(shè)計(jì)項(xiàng)目;
(4) 并行A/D、D/A轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目;
(5) 串行行A/D、D/A轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目;
(6) 語(yǔ)音數(shù)字化存儲(chǔ)與回放項(xiàng)目(需學(xué)生設(shè)計(jì)前向和后向模擬通道)
(7) 頻率測(cè)量項(xiàng)目
基于該實(shí)驗(yàn)平臺(tái)可開(kāi)設(shè)基于FPGA、CPLD的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目：
(1) 基本的數(shù)字邏輯實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目;
(2) 等精度頻率測(cè)量項(xiàng)目;
(3) DDS信號(hào)源綜合實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目;
(4) 失真度測(cè)試項(xiàng)目;
(5) 高速數(shù)據(jù)采集項(xiàng)目;
(6) FSK、PSK、ASK等調(diào)制與解調(diào)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目;
(7)除了可開(kāi)設(shè)以上實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目外，還可以開(kāi)設(shè)其它基于單片機(jī)、FPGA、CPLD等的綜合性、創(chuàng)新性實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目。
作品名稱：EDI-2電子設(shè)計(jì)綜合實(shí)驗(yàn)箱
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