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產(chǎn)品熱度：加載中

品　　牌：ADVANCE RIKO

產(chǎn)品型號：ZEM-d

制造廠商：ADVANCE RIKO

適用范圍：高教

所在地區(qū)：日本

　　日本ADVANCE RIKO公司塞貝克系數(shù)與電阻測量系統(tǒng)ZEM系列在銷售量超過300臺，廣獲科研及工業(yè)用戶的贊譽，成為熱電材料領(lǐng)域應用廣泛的測試設備。2019年，在此前的成功基礎(chǔ)上，ADVANCE RIKO公司推出了專門用于評價聚合物厚度方向上熱電性能的全新設備ZEM-d。

　　與之前ZEM系列產(chǎn)品（ZEM-3/ZEM-5）不同，新型號ZEM-d主要測量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數(shù)和電阻率，可以測量的樣品厚度薄為10μm。此外，ZEM-d與采用激光閃光法測量薄膜的熱擴散率/導熱系數(shù)測量方向一致，其測量結(jié)果可廣泛應用于薄膜熱電材料的性能評價。

ZEM-d測量原理

電阻率測量原理

塞貝克系數(shù)測量原理

ZEM-d技術(shù)參數(shù)

　　測量參數(shù)        塞貝克系數(shù)，電阻率

　　溫度范圍        高200℃（樣品表面）

　　樣品尺寸        截面：Φ20mm（Max），長度：0.01-20mm

　　測量氛圍        空氣或惰性氣體

軟件界面

測試數(shù)據(jù)

銅合金的塞貝克系數(shù)測量結(jié)果

相關(guān)產(chǎn)品：

　　塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)-ZEM：http://www.buyu5683.com/product/2018030736.shtml

　　激光閃光法熱常數(shù)測量系統(tǒng)：http://www.buyu5683.com/product/2020030433.shtml

　　納米薄膜熱導率測試系統(tǒng)：http://www.buyu5683.com/product/2020033031.shtml